單晶X衍射分析方法概述

單晶X衍射分析方法概述

單晶X射線衍射分析法主要用于晶體結(jié)構(gòu)測定。晶體結(jié)構(gòu)測定的最后結(jié)果是獲取晶胞的空間群、晶胞常數(shù)和一套晶胞中每個原子位置的參數(shù)，并用結(jié)構(gòu)模型圖顯示。從結(jié)構(gòu)分析結(jié)果看，可以很容易得到鍵長、鍵角、配位數(shù)等晶體化學數(shù)據(jù)。利用單晶衍射分析獲得的高分辨電子密度分布圖還可以進一步研究結(jié)構(gòu)中價電子的分布、原子或離子的大小、鍵型等等。測厚儀| 測速儀| 轉(zhuǎn)速表| 壓力表| 壓力計| 真空表| 硬度計| 探傷儀| 電子稱| 熱像儀