透射電子顯微鏡可提供的信息

透射電子顯微鏡可提供的信息
①可了解試樣的大小及形狀。依次可了解其結(jié)晶的不完整性、粒度分布、表面結(jié)構(gòu)、聚集態(tài)等。 
　�、诳傻玫诫娮邮�衍射圖像。如非晶樣品，可了解暈圈；單晶樣品可了解二維點陣的單晶圖像；多晶可了解德拜-謝樂環(huán)。特別是對多晶時決定試樣德單位晶格的大小，由各面距的測定可以進行試樣的鑒定。 多用表| 驗電筆| 示波表| 電流表| 鉤表| 測試器| 電力計| 電力測量儀| 光度計| 電壓計| 電流計|
　�、劭闪私饩�體的晶格缺陷及位錯的存在以及其種類、性質(zhì)、方向等。根據(jù)超高分辨率電子顯微鏡圖像，可了解晶體內(nèi)的分子排列、原子排列及其不規(guī)則性、分子內(nèi)的原子排列等。
　�、芸闪私饩�體的取向，固體反應在反應前后的取向變化等。
　　⑤可進行極微量樣品的元素分析。通過試樣發(fā)射的X射線能量分析。對試樣可進行組成元素的定性、定量分析以及試樣的形態(tài)結(jié)構(gòu)（energy dispersive spectroscopy, EDS）。通過試樣內(nèi)的電子能部分被試樣吸收，分析這種能量便可進行同樣的分析(electron energy loss spectroscopy, EELS)。
　　與只能反映試樣平均結(jié)構(gòu)的X射線衍射分析法相比較，電子束衍射圖像，電子顯微鏡圖像可得到非常微小范圍的信息，如可了解在規(guī)則結(jié)構(gòu)中的不規(guī)則部分，或在不規(guī)則結(jié)構(gòu)中的規(guī)則結(jié)構(gòu)。而且利用EDS、EELS進行元素分析均可進行直徑為1μm以下到1nm的微小的試樣范圍的超微分析。而且這種分析法是可以用目測觀察和選擇，這是其他分析方法所沒有的優(yōu)點。