盲區(qū)對(duì)光時(shí)域反射儀測(cè)量精度的影響

盲區(qū)對(duì)光時(shí)域反射儀測(cè)量精度的影響

我們將諸如活動(dòng)連接器、機(jī)械接頭等特征點(diǎn)產(chǎn)生反射引起的OTDR接收端飽和而帶來的一系列“盲點(diǎn)”稱為盲區(qū)。光纖中的盲區(qū)分為事件盲區(qū)和衰減盲區(qū)兩種：由于介入活動(dòng)連接器而引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到接收器飽和峰值之間的長(zhǎng)度距離，被稱為事件盲區(qū)；光纖中由于介入活動(dòng)連接器引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到可識(shí)別其他事件點(diǎn)之間的距離，被稱為衰減盲區(qū)。對(duì)于OTDR來說，盲區(qū)越小越好。 盲區(qū)會(huì)隨著脈沖寬的寬度的增加而增大，增加脈沖寬度雖然增加了測(cè)量長(zhǎng)度，但也增大了測(cè)量盲區(qū)，所以，我們?cè)跍y(cè)試光纖時(shí)，對(duì)OTDR附件的光纖和相鄰事件點(diǎn)的測(cè)量要使用窄脈沖，而對(duì)光纖遠(yuǎn)端進(jìn)行測(cè)量時(shí)要使用寬脈沖。校正器| 轉(zhuǎn)換器| 傳送器| 變送器| 傳感器| 記錄儀| 有紙記錄儀| 無紙記錄儀|