一種可調(diào)橫向剪切量的新型偏振干涉成像光譜儀
摘要: 為了克服傳統(tǒng)成像光譜儀穩(wěn)定性差,干涉條紋雜亂復(fù)雜等缺點(diǎn),提出了一種基于可調(diào)橫向剪切量薩伐爾 (Savart)偏光鏡的新型偏振干涉成像光譜儀。具體分析推導(dǎo)了光線入射角變化對(duì)這種新型的可調(diào)橫向剪切量薩伐 爾偏光鏡的光程差、偏振度以及對(duì)系統(tǒng)干涉條紋的影響;簡(jiǎn)要論述了這種新型偏振干涉成像光譜儀的工作機(jī)理和 運(yùn)行方式,從原理上論證了它具有重量輕、體積小、抗震性好、適用范圍廣、分束光線平行均勻分布、干涉圖樣清晰、 處理簡(jiǎn)便等諸多優(yōu)點(diǎn),為新型可調(diào)橫向剪切量的偏振干涉成像光譜儀的設(shè)計(jì)、研制、調(diào)試和工程化提供理論依據(jù)和 實(shí)踐指導(dǎo)。
1 引 言 自20世紀(jì)80年代初期美國(guó)宇航局噴氣推進(jìn)實(shí) 驗(yàn)室(JPL)提出了成像光譜儀的概念至今,成像光 譜技術(shù)已得到了飛速的發(fā)展和廣泛的應(yīng)用 。早 期出現(xiàn)的成像光譜儀大多基于色散棱鏡或衍射光 柵,稱為色散型成像光譜儀。這類成像光譜儀原理 簡(jiǎn)單、性能穩(wěn)定,但存在系統(tǒng)光通量小探測(cè)靈敏度低 的不足,妨礙了它的進(jìn)一步發(fā)展,對(duì)高靈敏度探測(cè)器 的依賴和對(duì)光學(xué)系統(tǒng)的苛刻要求成為此類技術(shù)的瓶 頸。經(jīng)典的干涉成像光譜儀則基于邁克耳孫干涉 儀,依靠精密動(dòng)鏡的勻速、直線往返運(yùn)動(dòng)獲得干涉 圖,光路不受狹縫限制,其系統(tǒng)光通量比色散型成像 光譜儀可高兩個(gè)數(shù)量級(jí),但由于掃描時(shí)對(duì)鏡面的傾 斜和橫移具有很高的要求,系統(tǒng)的穩(wěn)定性大大降低, 應(yīng)用環(huán)境和條件也受到限制。為了克服精密動(dòng)鏡系 統(tǒng)穩(wěn)定性的難題,人們又提出了空間調(diào)制干涉成像 光譜儀,并在航天遙感、風(fēng)場(chǎng)探測(cè)等方面得到了重要 的應(yīng)用l_3]。這種成像光譜儀的光路中也設(shè)置狹縫, 其探測(cè)靈敏度不高,但與色散型光譜成像儀相比,由 于其狹縫的寬度與光譜分辨力無(wú)關(guān),因此,在空間分 辨力要求不高的條件下,空間調(diào)制干涉成像光譜儀 也可以具有較高的靈敏度。為了解決成像光譜技術(shù) 中高穩(wěn)定度與高靈敏度的矛盾,本文在對(duì)干涉成像 光譜技術(shù)多年研究結(jié)果的基礎(chǔ)上l_4 ],提出了一種 可調(diào)橫向剪切量的新型偏振干涉成像光譜儀,采用 轉(zhuǎn)鏡代替直線運(yùn)動(dòng)的精密動(dòng)鏡機(jī)構(gòu),具有較高的系 統(tǒng)穩(wěn)定性、探測(cè)靈敏度和探測(cè)速度,同時(shí)也克服了現(xiàn) 有技術(shù)中存在的一些原理缺陷。
2 薩伐爾偏光鏡結(jié)構(gòu)與原理分析 分束裝置是光學(xué)實(shí)驗(yàn)尤其是干涉光譜儀中常用 的重要部件。傳統(tǒng)的邁克耳孫干涉儀中,它由一個(gè) 半透半反鏡和兩個(gè)反射鏡組成。這種分束裝置在防 震條件好的場(chǎng)合能夠有效地工作,但在環(huán)境干擾嚴(yán) 重時(shí),由于反射鏡、半反鏡及各自的支架振動(dòng)狀態(tài) (幅度、頻率和振動(dòng)方向)的不同,造成了分束光之間 的相位抖動(dòng),降低了形成的干涉條紋的穩(wěn)定度,嚴(yán)重 時(shí)會(huì)使相關(guān)的實(shí)驗(yàn)不能進(jìn)行。改進(jìn)的常規(guī)可調(diào)分束 角棱鏡 (如羅雄棱鏡、沃拉斯頓棱鏡等)雖然能形 成相對(duì)穩(wěn)定的分光束,但分光束偏振性較差,光強(qiáng)分 布不均,以及干涉圖像復(fù)雜干涉數(shù)據(jù)不易處理等弱 點(diǎn)極大地限制了其應(yīng)用與發(fā)展。而本文描述的基于 薩伐爾板的可調(diào)橫向剪切量偏光鏡產(chǎn)生的兩線偏振 光彼此平行,偏振度高相干性好,干涉圖像簡(jiǎn)單干涉 數(shù)據(jù)處理方便,其橫向剪切量不但具有較大取值而 且可調(diào),這些明顯的特點(diǎn),無(wú)疑將拓寬橫向剪切偏光 器件的應(yīng)用范圍。 可調(diào)橫向剪切量薩伐爾偏光鏡是一種新型的分 束裝置l_9],它由如圖1所示的光軸相互垂直且各與 系統(tǒng)光軸成45。角的兩塊等厚單軸負(fù)(正)晶薩伐爾 板及 /2相位延遲片組成。從光源發(fā)出的光經(jīng)起偏 后,入射到薩伐爾板的左板,分為尋常光(o光)和非 常光(e光),O光沿原方向傳播,e光偏折。當(dāng)兩束 光通過(guò) /2板時(shí),由于它們的偏振方向與 /2板光 軸都成45。角,所以兩束線偏振光出射 /2板時(shí)振動(dòng) 方向轉(zhuǎn)動(dòng)了90。。射入第二塊晶體板后,原O光變?yōu)?e光,原e光變?yōu)。光,在薩伐爾板的后表面偏折后 沿平行于入射光的方向射出,并由此形成一定的橫 向簡(jiǎn)切量d,為光線經(jīng)成像系統(tǒng)形成干涉圖樣奠定 了基礎(chǔ)。 圖1 薩伐爾偏光鏡結(jié)構(gòu)組成與光學(xué)原理圖 Fig.1 Structure and optical principle of Savart polariscope 在圖2中,光線從折射率為 的各向同性介質(zhì) 以0點(diǎn)為入射點(diǎn)入射薩伐爾偏光鏡。入射光入射角 為i,入射面與ZOX平面(主截面)成 角。 圖2 薩伐爾偏光鏡光線追跡圖 Fig.2 Beam tracing diagram of Savart polariscope 通過(guò)計(jì)算可知經(jīng)薩伐爾偏光鏡后光線成為平行 于入射光線且有一定間距的二光束l_1 ,其總的橫向 剪切量為 d一麗一~/1葡丌 , (1) 總的光程差A(yù)—L。 一L 。一 l l,分別將各參量 代入: . t ( ) ~/ 2( )一 sin i ~/ 壘 ; 一ni l l一 1 ( )一 sin i 。 。 (cos + sin )sin i+ 孺 ∞o z +十 in2w) in2 2) 更為詳細(xì)的具體推導(dǎo)可參考文獻(xiàn)[10]。以方解 石晶體為例( 一1.48640,‰一1.65835),可得到圖3 所示的薩伐爾偏光鏡光程差隨i,0./的變化曲線。 ’ 、I — i=0。 , ~ \ 、 一i=2。 。 — 一 。 。 — . / / ~ 0 60 l2O l80 240 300 360 ∞/(。) 圖3 光程差隨i, 的變化曲線 Fig.3 Variation of optical path difference versus the parameters of i and(u 結(jié)合圖像可以直觀地發(fā)現(xiàn),橫向剪切量和光程 差在叫一180。左右成對(duì)稱分布,這是因?yàn)橐晥?chǎng)補(bǔ)償 型薩伐爾偏光鏡前后兩個(gè)薩伐爾板的光軸方向在空 間關(guān)于叫一180。完全對(duì)稱所導(dǎo)致的。橫向剪切量和 光程差在入射角 ≠0時(shí)圍繞i一0做類似于正弦曲 線的上下波動(dòng)。橫向剪切量在0。、180。出現(xiàn)最小值, 在90。、270。出現(xiàn)最大值。而光程差在0。出現(xiàn)最小 值,在180。出現(xiàn)最大值,并在90。、270。出現(xiàn)零光程 差。這些都與兩塊薩伐爾板的光軸方向有直接 關(guān)系。 根據(jù)可調(diào)分束角棱鏡,在光源以固定方向入射 時(shí)通過(guò)旋轉(zhuǎn)鏡體改變?nèi)肷浣菑亩玫捷^大的分束角 獲得大光程差的原理口¨,我們也可利用薩伐爾偏光 鏡光程差隨入射角近似線性增長(zhǎng)的特點(diǎn),在保持入 射平面與主截面叫不變的前提下,旋轉(zhuǎn)棱鏡改變?nèi)?射角i即可獲取較大的光程差,若在此條件下連續(xù) 采樣一定的干涉數(shù)據(jù)即可獲取光源在一定光程差范 圍內(nèi)的干涉數(shù)據(jù),適當(dāng)處理即可獲取光譜信息,這也 是我們?cè)O(shè)計(jì)的基于可調(diào)橫向剪切量薩伐爾偏光鏡的 新型偏振干涉光譜儀的理論基礎(chǔ)。
3 干涉成像光譜儀 圖4是我們自主設(shè)計(jì)的基于雙折射晶體(可調(diào) 橫向簡(jiǎn)切量薩伐爾偏光鏡)分光器的偏振干涉成像 光譜儀的光路圖。其中P1和P2為偏振方向互相 垂直放置的兩偏振片,薩伐爾偏光鏡固定在叫一 180。的平面上,并可在紙面方向上圍繞鏡體中心旋 轉(zhuǎn)擺動(dòng)。初始時(shí)刻,P1的偏振方向與薩伐爾偏光鏡 左板主光軸成45。角,以確保兩分光光束光強(qiáng)對(duì)稱 分布,且初始光程差為零,便于后期數(shù)據(jù)處理。 Slit r 一 J l ^ 。 {。。 一{ 一l ’Ce O /] 一 l, j oe Savart Z 圖4 新型司調(diào)橫向剪切量偏振干涉成像光譜儀原理圖 由上面的計(jì)算分析可知當(dāng)叫一180。時(shí)系統(tǒng)可獲 得最大的光程差,而光譜儀的分辨力一般與光程差 成正比l_】 ,從而有利于提高光譜儀的分辨力。光源 (Source)發(fā)出的光通過(guò)狹縫后經(jīng)起偏器變?yōu)檠仄?片偏振方向振動(dòng)的線偏振光,入射到薩伐爾偏光鏡 上后發(fā)生雙折射,成為兩束線偏振光:尋常光(0光) 和非尋常光(e光),0光沿原入射方向傳播,e光則 發(fā)生偏折。而在進(jìn)入薩伐爾偏光鏡右板時(shí),由于光 軸方向的改變,原。光變成e光,原e光變成。光。 出射光變成兩束有橫向剪切量,振動(dòng)方向互相垂直 且平行于原入射光傳播方向的線偏振光,經(jīng)分析器 后兩束光振動(dòng)方向一致,經(jīng)成像鏡后在探測(cè)器表面 相遇形成干涉條紋。旋轉(zhuǎn)偏光鏡,通過(guò)旋轉(zhuǎn)鏡體使 入射角在一i到i區(qū)間內(nèi)往復(fù)連續(xù)變化,雖然由于旋 轉(zhuǎn)使入射點(diǎn)發(fā)生變化,但是根據(jù)薩伐爾偏光鏡出射 光線與入射光線平行傳播的特點(diǎn),易知鏡體旋轉(zhuǎn)造 成入射角改變(不同入射點(diǎn))與光線入射角改變(同 一入射點(diǎn))造成的光程差分布是相同的,即可獲取如 圖3隨旋轉(zhuǎn)入射角變化的光程差分布,并由此獲得 最終不同光程差下的干涉條紋。且由于入射角關(guān)于 可調(diào)橫向剪切量薩伐爾偏光鏡中心平面(圖4中的 YZ面)具有良好的上下對(duì)稱變化性,因此通過(guò)適當(dāng) 的數(shù)據(jù)采集(單邊或雙邊)l_1 ,就可以得到一定光程 差范圍內(nèi)的一組干涉數(shù)據(jù),由于這種干涉圖像采集 模式類似邁克耳孫干涉光譜儀,因此數(shù)據(jù)之間關(guān)系 清晰,數(shù)據(jù)采樣與復(fù)原處理可利用光程差非線性的 轉(zhuǎn)鏡式傅里葉變換光譜儀的處理方式l_】 ,相關(guān)實(shí)驗(yàn) 表明這種轉(zhuǎn)鏡式傅里葉變換光譜儀中用轉(zhuǎn)鏡代替直 線移動(dòng)的精密動(dòng)鏡,可有效提高光譜分辨力和時(shí)間 分辨力[14ds]。此外,由圖3光程差隨i,叫的變化曲 O 5毗 O毗 5∞ O 5∞ O毗 5吡 O O O O O O O O O 一 一 一 一 芒aJ 葛II苗盆rBu 盆0 線可知,當(dāng) 一定時(shí)(cu≠180。),光程差始終與i成 近似的線性關(guān)系,而對(duì) 的小幅變化不敏感,因此 干涉成像光譜儀中薩伐爾偏光鏡允許的傾斜誤差容 限較大,系統(tǒng)穩(wěn)定性大大提高 。
4 結(jié) 論 可調(diào)橫向剪切量薩伐爾偏光鏡與可調(diào)分束角棱 鏡相比,其最大的優(yōu)點(diǎn)在于保持了分束后的出射光 線極高的偏振度,且分束光線保持彼此平行,光束強(qiáng) 度分布對(duì)稱均勻,克服了分束角型分束棱鏡光線發(fā) 散不易收集,干涉條紋雜亂復(fù)雜等缺點(diǎn)。而基于可 調(diào)橫向剪切量薩伐爾偏光鏡的新型偏振干涉成像光 譜儀,和傳統(tǒng)的邁克耳孫干涉儀相比,其突出優(yōu)點(diǎn)是 裝置的整體性強(qiáng),消除了半反半透鏡和反射鏡之間 的相對(duì)震動(dòng),同時(shí)由于兩光束均出射于同一器件,對(duì) 于工作平臺(tái)和分束棱鏡震動(dòng)造成的兩光束之間相位 相對(duì)抖動(dòng)也有很好的補(bǔ)償作用,可得到相當(dāng)穩(wěn)定的 干涉條紋,大大提高了光學(xué)系統(tǒng)的抗震性能。 其次由于使用了薩伐爾偏光鏡,改傳統(tǒng)干涉儀 動(dòng)鏡相對(duì)移動(dòng)為繞分束器中心旋轉(zhuǎn),采用轉(zhuǎn)鏡代替 直線運(yùn)動(dòng)或擺動(dòng)的精密動(dòng)鏡機(jī)構(gòu),具有較高的系統(tǒng) 穩(wěn)定性、探測(cè)靈敏度和探測(cè)速度,能夠在與被探測(cè)目 標(biāo)相對(duì)靜止的情況下,獲取目標(biāo)的兩維空間信息和 一維光譜信息。因此光譜儀具有體積小,重量輕,抗 震性好等諸多優(yōu)點(diǎn)。依靠轉(zhuǎn)動(dòng)鏡體形成連續(xù)變化的 光程差,在采用非線性補(bǔ)償后_】 ,可大大拓寬轉(zhuǎn)鏡 的折射率、工作角等參量的選擇余地,在工程設(shè)計(jì)中 也具有很大的實(shí)際意義,極大地提高了干涉成像光 譜儀的應(yīng)用范圍。