電子能譜儀的分類和應(yīng)用

電子能譜儀的分類和應(yīng)用

隨著激發(fā)源及研究的二次電子來源的不同，電子能譜儀可分為：
　　（1）X光電子能譜儀（XPS）。以X射線為激發(fā)源，獲得內(nèi)、外層光電子能譜。對檢測輕、重元素均相當(dāng)有效；
　�。�2）紫外光電子能譜儀（UPS）。以紫外光線為激發(fā)源，由于紫外光能量低，射線寬度窄，因此對激發(fā)價電子層電子靈敏度強(qiáng)，分辨力高，能獲得直接反映分子特征的價電子層電子能譜；
　�。�3）俄歇(Auger)電子能譜儀（AES）。用電子射線松為激發(fā)源，研究俄歇電子獲得的能譜，它與X熒光儀相比，對檢測原子序數(shù)小于33以下的輕元素有較高的靈敏度。在表面物化分析、分子結(jié)構(gòu)鑒定、催化劑研究、新材料研究，以及物理學(xué)、理子化學(xué)基礎(chǔ)理論研究等領(lǐng)域中，應(yīng)用日益廣泛。

應(yīng)用：電子能譜目前主要應(yīng)用于催化、金屬腐蝕、粘合、電極過程和半導(dǎo)體材料與器件等這樣一些極有應(yīng)用價值的領(lǐng)域，探索固體表面的組成、形貌、結(jié)構(gòu)、化學(xué)狀態(tài)、電子結(jié)構(gòu)和表面鍵合等信息。隨著時間的推移，電子能譜的應(yīng)用范圍和程度將會越來越廣泛，越來越深入。
　　UPS主要用于提供：