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涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest600
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精密超聲波測(cè)厚儀CL400
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超聲波探傷儀USM35XDAC
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涂鍍層測(cè)厚儀MikroTest 6
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VX聲速儀(球化率儀)
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簡(jiǎn)介：測(cè)量范圍：0.63-500mm(可以選擇英制或公制) 分辨率：0.01mm 聲速范圍：1250～10000米/秒； 單點(diǎn)測(cè)量時(shí)為每秒4個(gè)讀數(shù)； 掃查測(cè)量時(shí)為每秒16個(gè)讀數(shù)； 采用單點(diǎn)測(cè)量模式校驗(yàn)已知厚度或聲速。
SF6-1000柔性光纖內(nèi)窺鏡
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單色無(wú)紙記錄儀SWP-NSR
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精密超聲波測(cè)厚儀PX7/PX7DL
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激光測(cè)距儀LeicaDistoA5
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精密超聲波測(cè)厚儀CL5
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